紅外測溫儀在工業現場應用中的幹擾問題

　　輻射測溫為非接觸測溫，在測量中常常受到外界幹擾。這些幹擾大致可分為光路中的幹擾、外來光的幹擾、發射率變化的幹擾、環境溫度變化和電磁方麵的幹擾，其中環境溫度變化及電磁方麵的幹擾，在設計和生產測溫儀時應充分考慮。在應用中主要應保證儀器所允許的環境溫度範圍和對電源的要求，可以釆取一些如水冷套、穩壓電源等措施，本文重點討論來自光學方麵的幹擾。

　　一、光路中的幹擾

　　一般把被測表麵和輻射測溫儀之間在測量上所必須通過的空間距離稱作光路，例如，要測量軋製中的鋼板表麵溫度，在鋼板上經常生成一層氧化皮並不斷剝落；為了冷卻設備和產品，常常在被測表麵上停留有水膜，在被測表麵附近還經常存在著濃度化的水蒸氣等；大氣中還在CO2、CO、O2等有選擇性吸收氣體和塵埃等。這些都是光路中的幹擾，如不考慮將會帶來很大誤差，甚至導致失去測量的意義！下麵向日葵色版app下载卍分幾次簡要介紹克服和減弱光路中各種幹擾的辦法。